服務熱線
18910232138
產(chǎn)品分類
相關文章
您的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 特殊紅外測溫儀 > 外延片測溫儀 > Sekidenko OR400M外延片測溫儀
產(chǎn)品中心
-
產(chǎn)品名稱：
外延片測溫儀
描述：Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長3.3或5.2μm，具有RS232數(shù)字輸出和模擬輸出接口，適用于薄膜太陽能，玻璃，半導體工藝溫度的精確測量。訪問次數(shù)： 3073更新時間： 2025-04-09
產(chǎn)品介紹
Sekidenko OR400M 外延片測溫儀主要特點
自動環(huán)境溫度校準
結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成
高速固態(tài)光電探測器
薄膜光伏電池生產(chǎn)過程的實時測量
可配置的濾光片，探測器和光學傳輸系統(tǒng)
詳細說明
OR400M 單通道中波光學高溫計用于需要更長波長的半導體應用，例如測量真空室內(nèi)的石英。高溫計安裝在腔室外通過視窗進行非接觸式測量。
由于玻璃具有*的透射特性，因此測量玻璃溫度必須選擇更長的波長（通常在5 µm以上）。這些波長使高溫計可以“看見”玻璃基板，而不是透過玻璃測量對側(cè)的物體或薄膜的輻射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下對基于玻璃的應用（包括高雜散光背景存在情況）進行的精確測量
OR400M光學高溫計可選用3.3 µm的近紅外波段和5.2 µm的中紅外波段。該設備的波長范圍非常適合光伏（PV）太陽能應用中疊層PV電池組中的特定層溫度的測量。PV電池層包括TCO（透明導電氧化物）層，鉬背面接觸層以及CIGS（硒化銅銦鎵）或CdTe（碲化鎘）沉積層。 為了選擇正確的波長來測量每層的溫度，必須考慮以下幾點：
層的透射率屬性
層的厚度
層的發(fā)射率
背景雜散光對測試的影響
技術參數(shù)
| 通用參數(shù) | |
配置 | 單通道溫度測量 |
溫度范圍 | 50 至 1300°C |
| 波長 | 3.3 和 5.2 µm ，可訂制 |
| 讀取速率 | 高達 250 Hz |
| 測溫精度 | ±3°C |
重復精度 | ±0.1°C |
| 分辨率 | 0.01°C |
| 接口 | |
| 屏幕顯示 | 無，可通過RS232設置 |
| 數(shù)據(jù) I/O | 高達115 kB的 RS-232 輸出 |
| 模擬輸出 | 0 至 10 V 或 4 - 20 mA |
| 電參數(shù) | |
輸入電壓 | AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz DC: +24 VDC |
| 環(huán)境參數(shù) | |
| 使用環(huán)境 | 15 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露 |
| 物理特性 | |
| 物理尺寸 | 32 mm (H) x 57 mm (W) x 235 mm (D) 1.26" (H) x 2.30" (W) x 9.26" (D) |
| 重量 | 0.39 kg (0.87 lb) |
| 安裝 | 框架安裝，安裝塊上有安裝孔；有關更多信息，請參考手冊。 |
| 電源線電流 | 100 VAC時,小于0.7A |
Sekidenko OR400M 外延片測溫儀
相關產(chǎn)品
- (上一篇)：Sekidenko MXE外延片測溫儀
- (下一篇)：Sekidenko OR400T外延片測溫儀